RSS订阅密勒指数
贡献者：sylar 浏览：6959次 创建时间：2009-05-26
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密勒指数(Miller indices)
以晶胞基矢定义的互质整数，用以表示晶面的方向。
1）确定某平面在直角坐标系 3个轴上的截点，并以晶格常数为单位测得相应的截距。
2）取截距的倒数，然后约简为 3 个没有公约数的整数，即将其化简成最简单的整数比。
3）将此结果以 “（hkl）”表示，即为此平面的密勒指数。
举一个例子:图中一个（623）,晶面 ACC′A′在坐标轴上的截距为 1，1，∞ ，其倒数为 1，1，0，此平面用密勒指数表示为（110），此晶面的晶向即为［110］；晶面 ABB′A′用密勒指数表示为（100）；晶面 D′AC 用密勒指数表示为（111）。某一确定 的 晶 面 常 用 密 勒 指 数 表 示 为（hkl），（hkl）则代表在 x轴上截距为负的平面，［hkl］则代表一晶体的方向，如［100］ 方向定义为垂直于（100）平面的方向。
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参考资料
1.http://www.hbcnc.edu.cn/bak/yuanb/jpkcwlxgt/lesson/ch01/0104.htm
2.半导体器件物理（顾晓清）
3.微系统设计 Stephen D. Senturia
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