RSS订阅2651A数字源表
贡献者：angelazhang 浏览：918次 创建时间：2015-05-20
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2651A数字源表
目录
1概述
2两种测量模式
3宽动态范围
4高速脉冲
5测试脚本开发工具
1概述
2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计，提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于研发、可靠性及生产测试应用至关重要，例如测试高亮度LED (HBLED)、功率半导体、DC-DC转换器、电池，以及其他高功率材料、元件、模块和组件。
2两种测量模式
2651A型可选择数字化或积分测量模式，用于对瞬态和稳态行为进行精密特性分析。两个独立的模/数（A/D)转换器定义每种模式——一个用于电流，另一个用于电压，可同时用于精密源读回，不会影响测试效率。
数字化测量模式的18位A/D转换器能够以1微妙每点进行连续采样，每秒可捕获多达1百万个读数，使其成为波形捕获及高精度测量瞬态特征的最佳选择。而竞争方案必须通过对多个读数进行平均来产生一次测量结果，并且往往不能测量瞬态行为。
积分测量模式基于22位A/D转换器，优化了仪器在需要最高可能测量准确度和分辨率应用中的工作性能。这样可确保精密测量新一代器件中的极小电流和电压。全部2600A系列仪器均具有积分测量工作模式。
3宽动态范围
通过TSP-Link并联两个2651A单元，可将系统的电流量程从50A提高至100A。这比最接近的竞争方案高两倍半至五倍。两个单元串联时，电压量程可从40V提高至80V。全部2600A系列仪器中的嵌入式测试脚本处理器(TSP®)使用户能够将多个单元作为单台仪器进行寻址，使其一致动作，从而简化测试。2651A型的内置触发控制器能够以500纳秒同步所有链接通道的工作。2651A型的这些能力提供了业内可用的最宽动态范围，使其非常适合于各种大电流、大功率测试应用，包括：
功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试
GaN、SiC及其他复合材料和器件的特性分析
半导体结温特性分析
可靠性试验
高速、高精度数字化
电迁移研究
4高速脉冲
为了将器件在测试期间的自热(这也是大功率半导体和材料的普遍问题)降至最小，2651A型提供了高速脉冲能力，使用户能够以高准确度源出和测量脉冲。脉宽从100μs至DC、占空比从1%至100%可编程。而竞争方案通常受限于仪器占空比编程灵活性。
5测试脚本开发工具
仪器中嵌入了吉时利基于LXI的I-V测试软件TSP Express，所以无需软件安装和编程。从基本到高级测试，TSP Express均能以简单三步提供器件数据：连接、配置和采集。它还简化了仪器连接，允许更高的脉冲水平。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至.csv格式文件，可用于电子表格软件。还提供另外两款用于创建测试序列的强大软件工具。Test Script Builder应用软件支持TSP脚本的创建、修改、调试、运行和管理。一款基于IVI的LabVIEW®驱动简化了将2651A集成至LabVIEW测试序列的过程。
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