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贡献者：angelazhang 浏览：4148次 创建时间：2014-12-22
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DFT
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。 在集成电路（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。[1]
2 技术
扫描路径设计
扫描路径法(Scan Design)
是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。
内建自测试
内建自测试（BIST）设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是，内建自测试的测试向量一般是内部生成的，而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和设备（如ATE设备），但它增加了芯片设计的复杂性。
边界扫描测试
为了对电路板级的逻辑和连接进行测试，工业界和学术界提出了一种边界扫描的设计，边界扫描主要是指对芯片管脚与核心逻辑之间的连接进行扫描。
3 其他含义
1. 驱动器健康检测技术
Drive Fitness Test 驱动器健康检测技术，是IBM公司为其PC赢哦俺开发的数据保护技术，它通过使用DFT程序访问IBM硬盘里的DFT微代码对硬盘进行检测，可以让用户方便快捷地检测硬盘的运转状况。
据研究表明，在用户送回返修的硬盘中，大部分硬盘本身是好的。DFT能够减少这种清醒的发生，为用户节省时间和精力，避免因误判而造成数据丢失。它在硬盘上分隔出一个单独的空间给DFT程序。即使在系统软件不能正常工作的情况下也能调用。
DFT微代码可以自动对错误事件进行登记，并将登记数据保存在硬盘的保留区域中。DFT微代码还可以实时对硬盘进行物理分析，如通过读取伺服位置错误信号来计算出盘片交换、伺服稳定性、重复移动等参数，并给出图形供用户或技术人员参考。这是一个全新的观念，硬盘子系统的控制信号可以被用来分析硬盘本身的机械状况。
而DFT软件是一个独立的不依赖操作系统的软件，它可以在用户其他任何软件失效的情况下运行。
2.离散傅里叶变换
Discrete Fourier Transform 离散傅里叶变换 的缩写 DFT Design For Test;面向测试的设计，用得更广的中文翻译是：可测试性设计 DFT Density Functional Theory 密度泛函理论 DFT Dry film thickness(干膜厚度）指漆膜实干后的涂层厚度 DFT Dark Force Team，也即是黑暗军团，是国外的一个由智能手机玩家组成的团体，核心成员有cotulla、beep等。
开放分类
参考资料
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