RSS订阅IC自动测试设备(ATE)
贡献者：晴朗雨 浏览：5897次 创建时间：2011-10-20
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ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。
IC自动测试支持I2C,SPI等通讯模式的IC，可读取Checksum并与烧录文件比对。也可采用边界扫描测试，对TDO，TDI，TMS，TCK，GND，加VDD和地，就可以测试IC的每个脚的好坏。
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参考资料
http://baike.baidu.com/view/5950315.htm
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