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薄膜测厚仪

薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。


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开放分类
仪器    

贡献者
DXY701121