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电迁移效应


贡献者：gsfei2009    浏览：3256次    创建时间：2009-07-03

电迁移效应-基本概念
电迁移是金属线在电流和温度作用下产生的金属迁移现象，它可能使金属线断裂，从而影响芯片的正常工作。电迁移在高电流密度和高频率变化的连线上比较容易产生，如电源、时钟线等。为了避免电迁移效应，可以增加连线的宽度，以保证通过连线的电流密度小于一个确定的值。



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开放分类
电子电路    电子特性    

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贡献者
gsfei2009    


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