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HKMG


贡献者:sky2009    浏览:7085次    创建时间:2010-04-07

HKMG(high-k绝缘层+金属栅极)

HKMG的优势和缺点
优势:不管使用Gate-first和Gate-last哪一种工艺,制造出的high-k绝缘层对提升晶体管的性能均有重大的意义。high-k技术不仅能够大幅减小栅极的漏电量,而且由于high-k绝缘层的等效氧化物厚度(EOT:equivalentoxidethickness)较薄,因此还能有效降低栅极电容。这样晶体管的关键尺寸便能得到进一步的缩小,而管子的驱动能力也能得到有效的改善。
缺点:不过采用high-k绝缘层的晶体管与采用硅氧化物绝缘层的晶体管相比,在改善沟道载流子迁移率方面稍有不利。



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开放分类
IC设计    制程    

参考资料
http://www.etime.net.cn/viewnews-34872.html

贡献者
sky2009    


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